Avbildning av prøveoverflaten
Skanneelektronmikroskoper er mest kjent for bilder av prøveoverflaten. Instrumentene ved ELMILAB er utstyrt med ulike typer detektorer som er egnet for denne avbildningsmåten, noe som muliggjør undersøkelse av ulike overflateegenskaper. Everhart-Thornley-detektorer er de mest allsidige og gir gode signal-til-støy-forhold for mange prøver; «in-lens»-detektorer for sekundærelektroner er mest følsomme for detaljer i det aller øverste overflatelaget, mens andre detektorer er optimalisert for avbildning under forhold med lavt vakuum.
Avbildning av prøveoverflaten
For avbildning i høyt vakuum må prøvene være tørre og skal ikke avgi gassformige stoffer. Stive prøver kan lufttørkes, men mange skjøre, våte prøver vil kunne ta skade av faseoverganger under tørking. Hos ELMILAB kan slike prøver behandles ved hjelp av frysetørking, kjemisk tørking eller tørking ved kritisk punkt for å unngå tørkeartifakter.
Mens ledende prøver kan avbildes uten ytterligere behandling, er ikke-ledende prøver utsatt for ladningsoppbygging som kan forringe bildekvaliteten. ELMILAB tilbyr belegging av prøver med en rekke ledende materialer (Au/Pd, Ir, Pt og C) for å redusere effekten av ladningsoppbygging på ulike typer prøver.
Dersom ladningsoppbygging fortsatt er et problem, eller man ønsker å unngå belegging, kan alle sveipelektronmikroskopene hos ELMILAB benyttes til avbildning under lavvakuumforhold. Gassmolekylene i nærheten av prøven ioniseres og transporterer effektivt ladninger bort fra prøven. Det kan benyttes spesifikke detektorer som er optimalisert for slike avbildningsforhold. Denne modusen gjør det også mulig å avbilde prøver som avgir gass eller inneholder fuktighet.